DDR-11x11.5-178BALL測(cè)試座

emmc169翻蓋測(cè)試座
產(chǎn)品規(guī)格：
測(cè)試座材料：　pei/pps
座頭材料：鋁合金6061/pei
探針類型： 彈簧探針pogo pin
工作溫度：-40 ~ 140度
探針機(jī)械壽命： 100k次
探針彈力：20g ~ 40g
功能：
※ 可對(duì)未寫(xiě)保護(hù)的ic進(jìn)行清空（格式化），測(cè)試ic好壞，大小容量，讀取拷貝。※ 如客戶手機(jī)損壞，字庫(kù)里的資料很重要，可以用我們的座子讀取到里面的資料找回，手機(jī)維修，數(shù)據(jù)恢復(fù)的利器。
※ 客戶常問(wèn)這種測(cè)試座可不可以燒錄資料進(jìn)ic？※ 答：可以，但需要燒錄資料的相應(yīng)軟件，但我們不是芯片方案商，無(wú)法提供燒錄軟件，客戶需自己有燒錄軟件方可燒錄，否則只能像u盤(pán)一樣拷貝。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
※根據(jù)客戶的具體需求，如頻率，電流，阻抗等，提供合適的探針、材料和測(cè)試結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)客戶的測(cè)試需求。
※測(cè)試座的結(jié)構(gòu)可以根據(jù)客戶的需求定制，提供浮板設(shè)計(jì)，提供更好的接觸，有效的保護(hù)被測(cè)芯片，提高測(cè)試壽命。
※探針可更換，拆卸簡(jiǎn)單，便于維護(hù)。
※ 支持熱拔插，可直接插讀卡器與電腦連接測(cè)試；
※ 兼容有球無(wú)球測(cè)試，通用性好，降低使用成本，可根據(jù)ic選擇不同大小限位框進(jìn)行更換，實(shí)現(xiàn)不同大小ic能夠通用；
※ 同時(shí)兼容：東芝、三星、海力士、intel 、sandisk(新帝) 等品牌ic；
※ 采用進(jìn)口雙頭探針，性能穩(wěn)定使用壽命長(zhǎng)，使用壽命是同類產(chǎn)品的10倍以上；
※ 維護(hù)方便，不良探針可更換，重復(fù)利用率較高，降低使用成本；
※ 采用翻蓋式結(jié)構(gòu),更加便于手動(dòng)測(cè)試，操作方便簡(jiǎn)單；
※ 采用模具整體成型加彈簧自適應(yīng)結(jié)構(gòu)，保證不同厚度的ic不需要任何調(diào)整即可保證其接觸良好測(cè)試ic通用性廣（厚度0.6-2.0mm 范圍都可測(cè)試）；
※ 采用浮板結(jié)構(gòu),定位**,取放ic方便，工作效率更高；
定制翻蓋 socket尺寸：
序號(hào)
座頭尺寸
類型
1
24x34
合金翻蓋
2
25x30.5
塑膠翻蓋
3
32x45
塑膠/合金/旋鈕翻蓋
4
50x50
旋鈕翻蓋
名稱
引腳數(shù)
間距
尺寸
bga132/152
88
1.0
12x18/14x18
bga272/304
160
0.8
14x18
bga252
160
0.8
12x18
bga316
166
0.8
14x18
emmc
153
0.5
13x11.5
emcp
254
0.5
13x11.5
emcp
221
0.5
13x11.5
ddr3/4
78
0.8
96
0.8
lpddr
178
0.65/0.8
11.5x11
lpddr
200
0.65/0.8
14.5x10