LED電性能測試數字源表

led電性能測試數字源表概述
led（全稱為light-emitting diode）是一種能發光的半導體電子元件。和普通的二管一樣，這些半導體材料會預先透過注入或攙雜等工藝以產生p、n架構。led只能夠往一個方向導通（通電）,當在兩端加載合適的電壓后，電流可以從p陽流向n陰而相反方向則不能。兩種不同的載流子：空穴和電子在不同的電電壓作用下從電流向p、n架構。當空穴和電子相遇而產生復合，電子會跌落到較低的能階，同時以光子的模式釋放出能量，即發光。經過多年的發展，目前led能夠發出的光已經遍及可見光、紅外線及紫外線，光度亦提高到相當高的程度，用途覆蓋指示燈，顯示板，照明等。
源表，“源”為電壓源和電流源，“表”為測量表，“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供的電壓或電流，同時可同步測量電流值或電壓值的測量儀表。源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測量。 常用測試參數
led必須在合適的電流電壓驅動下才能正常工作。其電壓-電流之間的關系稱為i-v特性。通過對led電特性的測試，可以獲得對應正向電壓（vf）、反向電壓（vr）及漏電流（ir）等參數，以及相應的i-v曲線。常用的測試方法一般為在led器件的兩端，加電壓測試電流，或者加電流測試電壓。此外，還可以根據客戶要求，搭配相應的光學測試系統，測試相應的光學性能。
（典型二管i-v特性曲線）
（led光電測試系統示意圖）
vf正向導通電壓測試
正向導通電壓，是led在正常工作電流下測量的電壓值。當加載在led兩端的工作電壓，低于導通電壓時，通過led的電流不發光。當電壓超過該值后，通過led的電流隨電壓迅速增加，而后led發光。常用測試方法為，將led的正接在高電位端，負接在低電位端，逐漸增加led的電流（電流值一般為幾ma），并同時測量led兩端的電壓（電壓值范圍在幾v以內）。而后根據實際測試需要，對數據進行分析，得到相應的vf值。
vr 反向擊穿電壓測試
反向擊穿電壓，是所允許加載在led兩端的反向電壓。當二管兩端的反向電壓超過vr后，反向電流會急劇二管將失去單方向導電特性，這種狀態稱為二管的擊穿。若長時間工作電壓超過vr，發光二管可能被擊穿損壞。常用測試方法為，將led的正接在低電位端，負接在高電位端，逐漸增加led的電流（電流值一般為幾ma），并同時測量led兩端的電壓（電壓值范圍在幾v以內）。而后根據實際測試需要，對數據進行分析，得到相應的vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源，因此，在測試時，無需將接線端反接。源表內部會自動根據設定值，切換輸出端的性。
ir漏電流測試
漏電流，指led處于反向偏置狀態時，流過二管的微弱反向電流。此時，led兩端的電壓低于vr。常用的測試方法為，將led的正接在低電位端，負接在高電位端，而后根據實際測試需要，設定加載在led兩端的電壓，測量電流ir。
繪制led i-v特性曲線測試 連接
如下圖所示，選擇合適的夾具，將led與s型源表進行連接
（源表測試連接示意圖） 測試步驟 步驟
操作方法
操作界面
選擇掃描模式
【主界面】—>【掃描模式】
設置掃描參數
根據實際測試需要，選擇并設置相應的參數。比如：【掃描類型】，【限值】，【掃描模式】，【掃描點】等
啟動測試
點擊【開始掃描】，即可啟動測試
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測試數據
待測試完畢后，會自動根據測試結果繪制i-v曲線，并顯示在屏幕上。此外，如果選擇保存【開始掃描】，也可在插入u盤后，導出測試數據
led電性能測試數字源表簡介
普賽斯s系列源表，集電壓、電流輸入輸出及測量等多種功能于一體。產品輸出電壓達300v測試電流達100pa，分辨率低至10pa，支持四象限工作，因此,可廣泛應用于各種半導體器件i-v電特性測試，如半導體ic，功率半導體器件，傳感器，led等。產品具有如下特點：
采用5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作，操作簡單方便 內置豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數掃描及用戶自定義掃描 四象限工作模式，可在源模式或肼模式下工作 支持usb存儲，一鍵導出測試報告 兼容多種上位機通訊方式，rs-232、gpib及以太網 可搭配普賽斯自主開發的上位機軟件使用，快速實現不同器件的測試 更多有關led電性能測試數字源表的信息找普賽斯儀表專員為您介紹一八一四零六六三四七六